Back Atoomkragmikroskopie AF مجهر القوة الذرية Arabic Атомно-силов микроскоп Bulgarian Mikroskopija atomskih sila BS Microscopi de forces atòmiques Catalan Mikroskopie atomárních sil Czech Atomar kraftmikroskopi Danish Rasterkraftmikroskop German Μικροσκοπία ατομικής δύναμης Greek Atomic force microscopy English
.svg)
S Rasterchraftmikroskoop, sältener Atomchraftmikroskoop (ängl. atomic/scanning force microscope; abkürzt AFM bzw. SFM, sältener RKM), isch e speziells Rastersondemikroskoop. Es isch e wichdigs Wärkzüüg in dr Ooberflechechemii und mä brucht s, zum Oberfleche mechanisch abzdaste und zum atomari Chreft uf dr Nanometerskala z mässe. Das Mikroskoop isch 1986 vom Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber[1] entwigglet worde.
- ↑ G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber: Atomic Force Microscope. In: Physical Review Letters. Band 56, Nr. 9, 1986, S. 930–933, doi:10.1103/PhysRevLett.56.930.