3D-SIM-Mikroskop

Das 3D-SIM-Mikroskop (engl. 3D structured illumination microscope) realisiert eine weiterentwickelte Form der Lichtmikroskopie, die Auflösungen jenseits der von Ernst Abbe beschriebenen Auflösungsgrenze ermöglicht. Das Konzept der 3D-SIM-Mikroskopie wurde erstmals von Lukosz und Marchand 1963 vorgestellt^[1][2] und von einem Team um Mats G. L. Gustafsson und John W. Sedat an der University of California, San Francisco weiter entwickelt.^[3] Kommerzielle Versionen werden von Applied Precision als „OMX“^[4], von Carl Zeiss als „ELYRA S.1 bzw. PS.1“^[5], sowie von Nikon als „N-SIM“^[6] angeboten.

1. ↑ W. Lukosz, M. Marchand: Optischen Abbildung Unter Überschreitung der Beugungsbedingten Auflösungsgrenze. In: Optica Acta. 10. Jahrgang, Nr. 3, 1963, S. 241–255, doi:10.1080/713817795. 
2. ↑ Carl Zeiss MicroImaging GmbH: Superresolution Structured Illumination Microscopy (SR-SIM). White Paper, Carl Zeiss BioSciences, Jena Location 2010 (PDF).
3. ↑ M. G. Gustafsson, L. Shao, P. M. Carlton et al: Three-dimensional resolution doubling in wide-field fluorescence microscopy by structured illumination. In: Biophysical Journal. Band 94, Nr. 12, Juni 2008, S. 4957–4970, doi:10.1529/ophysj.107.120345, PMID 18326650 (englisch). 
4. ↑ API DeltaVision OMX. Appliedprecision.com, archiviert vom Original (nicht mehr online verfügbar) am 9. Januar 2011; abgerufen am 23. Juni 2010 (englisch). 
5. ↑ Carl Zeiss MicroImaging GmbH: ELYRA Enter the World of Superresolution. Carl Zeiss BioSciences, Jena Location 2011 (PDF).
6. ↑ Nikon N-SIM (Memento vom 4. März 2016 im Internet Archive).