Back Atoomkragmikroskopie AF Rasterkraftmikroskop ALS مجهر القوة الذرية Arabic Атомно-силов микроскоп Bulgarian Mikroskopija atomskih sila BS Microscopi de forces atòmiques Catalan Mikroskopie atomárních sil Czech Atomar kraftmikroskopi Danish Rasterkraftmikroskop German Μικροσκοπία ατομικής δύναμης Greek
Mikroskop gaya atom (bahasa Inggris: Atomic force microscope, AFM) adalah jenis mikroskop dengan resolusi amat tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer, 1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik. Mikroskop prekursor mikroskop gaya atom (mikroskop penerowongan payaran), dikembangkan oleh Gerd Binnig dan Heinrich Rohrer pada awal tahun 1980 di pusat penelitian IBM - Zurich. Dari pengembangan mikroskop tersebut, mereka menerima Hadiah Nobel untuk Fisika pada tahun 1986. Binnig, Quate dan Gerber kemudian menciptakan mikroskop gaya atom pertama di dunia pada tahun 1986. Mikroskop ini merupakan salah satu alat terpenting untuk penggambaran, pengukuran, dan manipulasi materi pada skala nano. Informasi ini didapatkan dengan "meraba" permukaan dengan menggunakan sebuah alat pemeriksa mekanik. Elemen piezoelektrik yang memfasilitasi perintah elektronik gerak dengan sangat akurat dan tepat membuatnya dapat memindai dengan presisi tinggi. Dalam beberapa varian mikroskop, arus listrik juga dapat dialirkan ke ujung pemindai untuk menyelidiki konduktivitas listrik permukaan, tetapi ini sangat sulit dilakukan dan hanya ada sedikit data laporan yang dapat diandalkan.